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Keithley4200是美国吉时利公司推出的一款功能强大的半导体特性分析系统，其内置的KITE测量软件基本涵盖了半导体材料的相关测试功能。
但对于客户的某些特殊测试需求，KITE存在着二次开发比较困难，对开发人员专业性要求比较高的特点，使广大科研工作者无法进一步扩展相关功能。
我公司根据广大科研用户的需求，结合实际案例，推出Keithley4200扩展测量软件，目前已经在客户的系统中投入运行，并获得良好的测量效果。
详情请查看软件产品-Keithley 吉时利4200扩展测量软件，也可联系我公司进行详细的了解。